Archiviertes Physik-Kolloquium:

05. Jul. 2012, 16:15 Uhr, Gebäude NW1, Raum H3

Neue Einsichten in Oxidationsprozesse und Oxidwachstum mit niederenergetischer Elektronenmikroskopie

Dr. Jan Ingo Flege, IFP, Universität Bremen

Oxide sind in unserer modernen Welt allgegenwärtig und spielen eine prominente Rolle bei verschiedensten Phänomenen, ob als unerwünschtes Ergebnis korrosiver Prozesse oder als integrale Bestandteile aktueller technologischer Anwendungen in der heterogenen Katalyse oder Mikroelektronik. Die Funktionalität der Oxide ist im Allgemeinen durch ihre atomare Struktur und Morphologie bestimmt, die eng mit ihrem Entstehungsprozess verknüpft sind und aus denen wiederum ihre spezifischen chemischen und elektronischen Eigenschaften resultieren. Einen erheblichen Einfluss übt hierbei die Zusammensetzung der Oxidoberfläche aus, die die Wechselwirkung mit der Umgebung vermittelt. In meinem Vortrag werde ich darstellen, welche neuartigen Einblicke in Oxidations- und Wachstumsprozesse ultradünner Oxidfilme durch niederenergetische Elektronenmikroskopie gewonnen werden können. Neben der Möglichkeit, wesentliche Prozesse an Modellsystemen in situ und mit Ortsauflösung von wenigen Nanometern mit Videorate verfolgen zu können, stellt die zeitaufgelöste Untersuchung der lokalen atomaren und elektronischen Struktur insbesondere bei nanoheterogenen Systemen einen besonderen Reiz dar. Diese Art der Analyse soll anhand einer Reihe von Beispielen aus dem faszinierenden Bereich der Übergangsmetall- und Seltenerdoxide exemplarisch illustriert werden.